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1.介电温谱仪中的测试夹具依据国际标准ASTM D150方法设计，采用平行板电极原理，测试电极由上下电极+保护电极组成。上下电极具有良好的同心度和平行度，保护电极可减少周围空气电容的影响，使得测试数据更加准确可靠。
2.介电温谱仪可测量陶瓷、薄膜、半导体等块状材料，可与WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分析仪集成使用，组成一套集实验方案设计、测量、数据输出、数据分析的三琦高温介电温谱测量系统。可同时测量及输出频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱的测量数据与图形。测试频率为DC-30MHz。
什么是高温介电温谱测试系统？
1.高温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电测量系统软件四个组成部分。
2.高温测试平台是为样品提供一个高温环境；高温测试夹具提供待测试样品的测试平台；阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。最后，再通过三琦测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的长沙三琦高温介电温谱测量系统。
3.可测量陶瓷、薄膜、半导体等块状材料高温介电特性。
4.可同时测量及输出频率谱、电压谱、偏压谱、温度谱、介电温谱的测量数据与图形。
